電阻率成像技術(shù)在不良地質(zhì)探測中的 應(yīng)用研究
針對城市地下勘察孔位難以布置、孔數(shù)無法密布涵蓋全部,對地下不良、空洞、松 散等地質(zhì)條件難以判定等問題展開研究,提出采用電阻率成像探測法對地下不良 土體進(jìn)行測探,以實(shí)際工程為例,論述該方法的探測原理,對探測結(jié)果進(jìn)行技術(shù)分 析,提出解決方案。
關(guān)鍵字:
電阻率成像;探測;不良土體;地下勘察;地質(zhì)條件
作者:
崔愛珍, 高丙山
年份/刊期/頁碼:
《天津建設(shè)科技》—欄目:建筑工程—2020(5):59-61